密度仪几何光学结构是什么

  常见问题     |     2020-01-10 
我们在介绍印刷分光密度仪主要特色的时候,就讲过印刷密度仪是45/0几何光学结构,符合 CIE No.15,支持ISO 13655标准规定的MO,M1,M2,M3测试条件,能够准确实现各种印刷密度、叠印率等印刷参数测量。可究竟什么是几何光学结构呢?
 
这首先得从几何光学说起,几何光学是指以光线为基础,研究光传播和成像规律的一种学科。即光源发出的光线可以看做是无数几何光线的集合(注意此处是近似于波动光学,作为研究解决光学技术问题的简便方法),光线的方向代表着光的传播方向,在这种环境设定下,可以研究光线通过光学元件的规律和方法,以及最终应用于光学仪器的光学系统设计、生产和制造。
 
0/45度光学结构
0/45度光学结构
 
几何光学在光学仪器中的应用,让我们制造出给种各样的光学仪器,例如分光测色仪、色差仪、印刷分光密度仪、光泽度仪、雾度仪等等,不同的光学仪器具有不同的几何光学结构。几何光学结构可以看做为几何光学从设计光线的方向路径到光学元件及整个光学系统的构成,是光学仪器最基础、最核心的设计。一款光学仪器性能如何,光源的质量、采用的几何光学结构、光电转换显示系统都有很大的影响。不同应用环境下的光学仪器,几何光学结构也是不同的,例如大部分的光泽度仪都是20°、60°、80°的光学结构,部分采用45°和75°。
 


45/0度光学结构
 
密度仪的几何光学结构,主要为CIE推荐的45/0°几何光学照明条件下(45/0°环形照明光学条件,符合ISO 5-4标准)。印刷分光密度仪的几何光学结构主要有45/0°及0/45°两种,但目前较为流行且被CIE推荐的是45/0°几何光学照明条件。这两种即可光学结构的区别是:
 
0°/45°几何光学结构是以被测样品表面的法线为基准,光源在0°位置,即入射光线垂直于样品表面;光线的接收器在与样品表面法线左右呈45°角的位置,即接收器接收45°位置的反射光。为了减少不均匀性反射带来测量稳定性的影响,这类光学仪器通常会有多个45°位置接收器环形排列。例如0°/45°几何光学结构的分光光度仪测量数据与人眼目视观察的结果很接近,即测量数据与目视结果匹配性高。而45/0°几何光学结构正好相反,光线的传播过程也是逆向的。
 
在使用印刷分光密度仪时,我们需要注意,密度仪几何光学结构相同,并不代表光学系统性能相同。密度仪测量口径大小不同也影响着测量结果,通常密度仪在印刷行业中常用的测量口径是2mm,而测量口径不是越大越好,因为测量口径越大,对油墨覆盖的面积要求也就越大,而这对于印刷行业来说,测量口径太大使用时会有较大的限制。